2019.03.11 お知らせ
2019年4月24日（水）～4月26（金）のパシフィコ横浜で開催される「OPIE’19 レンズ設計・製造展」に出展します。
テクニカルの展示ブース：
A・Bホール ブース番号K18
「画像センシング展2018」とは
OPIEの特色
国内最大級の光関連の専門展示会で、しかも新年度のスタートに合わせて開催されます。新年度の研究開発・設計に役立てる為の情報収集、光業界の動向調査の最適な場として広く認識されています。
学術的な国際会議と連携している国内唯一の大規模展示会で、レーザーや光関連の大学・研究機関・企業のトップレベルの研究者・技術者が国外・国内から参集します。
SPIE,OSAはもちろん、中国などの光協会も参画し、国際的な価値を高めている展示会です。（主催者ホームページからの抜粋）
テクニカルの展示内容
同時多面撮像光学素子「クロビット」
外観検査装置やレーザーマーキング装置に使用することで、装置の省スペース化やタクトタイムの短縮にお役立ていただいております。ＩＣ、線材、ウエハ、基板、半田ボール、コネクタ、フープ材などの多面を１台の検査用カメラで検査することが出来ます。
微小光学部品
当社では光通信用の微小プリズムやレーザー読み取り装置（スキャナ）のガルバノミラーなど様々な微小光学部品の製作を行っています。
超高精度平面度基準原器
産業技術総合研究所との共同研究を基に合成石英を使用した超高精度平面基準原器の研磨加工に取り組んでおります。Φ100mmの90%でλ/100平面基準原器を製造し、測定保証をすることができるようになりました。現在、より大型かつ高精度な平面基準原器の制作を目指しておりΦ150mmの試作品を展示します。
表面品質比較判断プレート
外観検査での比較検査限度見本です。本来は社内向けとして独自に製作したものですが、お客様からの多数のご要望に応えて販売を開始いたしました。実際に外観検査を行っている社内の現場の声を活かし、外観比較検査をよりしやすく改良を加えております。
他にもプリズムや高精度平面基板の各種サンプルを展示いたします。
皆様のご来場心よりお待ちしております。